Напишите нам
Система измерения отражения

BIX-8811
Система измерения отражения

Отражение является фундаментальным оптическим свойством материалов и ключевым параметром в спектральных измерениях. Различные типы образцов в основном демонстрируют два режима отражения: зеркальное отражение и диффузное отражение. Зеркальное отражение происходит на идеально гладких поверхностях, в то время как диффузное отражение доминирует на шероховатых или текстурированных поверхностях. Большинство материалов из реального мира демонстрируют смешанные характеристики отражения. Измерения отражательной способности служат нескольким целям, включая определение отражательной способности оптических компонентов, анализ цветовых свойств поверхности и определение химического состава образцов.

reflectance measurement system
reflectance measurement system china
reflectance measurement system
reflectance measurement system china

Особенности  BIX-8811 Система измерения отражения

  • Легкая обработка образца-минимальные требования к приспособления для разностороннего размещения образца

  • Удобное управление-простые протоколы с отличной повторяемостью и быстрым обнаружением

  • Комплексные спектральные данные-значения и кривые отражения полного спектра для полного анализа

  • Расширенное измерение цвета-интегрированная выборка сферы для точной характеристики цвета материала

Применение  BIX-8811 Система измерения отражения

  • Измерение зеркального отражения-для полированных поверхностей и зеркальных материалов

  • Анализ диффузного отражения-идеал для грубых/текстурированных поверхностей и покрытий

  • Прецизионная цветовая характеристика-точное измерение цвета материалов и отделки

Применение  BIX-8811 Система измерения отражения

Типичный спектр

Typical Spectrum
Typical Spectrum

Технические характеристики  BIX-8811 Система измерения отражения

МодельБИКС-8811 - 0X1X
(Примечание модели: вариант 0X-спектрометра, вариант приспособления 1X - Sample)
Спектрометр01: 200 нм-1100 нм (BIM - 6002S - 22 - S03L02F06G13)
02: 200 нм-900 нм (BIM - 6002A - 01 - S03L02F06G01)
03: 400-1100 нм (BIM - 6002A - 13 - S03L01F05G02)
Приспособление образца11:
Волокно от 1 до 1 (SIM - 6102 - 1010 - S/S - P) * 2ea
Двухточечный этап отражения (BIM - 6303) * 1ea
12:
Волокно типа Y (SIM - 6102Y - 061016 - T/SS M) * 1ea
Двухточечный этап отражения (BIM - 6303) * 1ea
13:
Интеграционная сфера для отражения (SIM - 3003 - 02501) * 1ea
Интегрируя этап сферы (BIM - 6316 - 25) * 1еа
Источник светаДейтериевый вольфрамовый источник света (BIM - 6203) * 1ea
СтандартСтандарт зеркального отражения (SIM - 6326 - 30) * 1ea
Стандарт диффузного отражения (SIM - 6304 - 30) * 1ea


Контакт Нас
Brolight provides high-precision photonics instruments, ideal for both research and educational applications. Contact us today to request detailed product information and discover how our solutions can support your projects and create new opportunities.
Hangzhou Brolight Technology Co., Ltd.
Hangzhou Brolight Technology Co., Ltd.
  • Электронная почта:
  • Тел:
  • Добавить:
    Building 50th, Insigma Silver Lake Science and Technology Park, Fu Yang District, Hangzhou, China
ЕС
ИСО 9001
We use cookies to offer you a better browsing experience, analyze site traffic and personalize content. By using this site, you agree to our use of cookies. Privacy Policy
Reject Accept