Легкая обработка образца-минимальные требования к приспособления для разностороннего размещения образца
Удобное управление-простые протоколы с отличной повторяемостью и быстрым обнаружением
Комплексные спектральные данные-значения и кривые отражения полного спектра для полного анализа
Расширенное измерение цвета-интегрированная выборка сферы для точной характеристики цвета материала
Измерение зеркального отражения-для полированных поверхностей и зеркальных материалов
Анализ диффузного отражения-идеал для грубых/текстурированных поверхностей и покрытий
Прецизионная цветовая характеристика-точное измерение цвета материалов и отделки
| Модель | БИКС-8811 - 0X1X (Примечание модели: вариант 0X-спектрометра, вариант приспособления 1X - Sample) |
| Спектрометр | 01: 200 нм-1100 нм (BIM - 6002S - 22 - S03L02F06G13) |
| 02: 200 нм-900 нм (BIM - 6002A - 01 - S03L02F06G01) | |
| 03: 400-1100 нм (BIM - 6002A - 13 - S03L01F05G02) | |
| Приспособление образца | 11: Волокно от 1 до 1 (SIM - 6102 - 1010 - S/S - P) * 2ea Двухточечный этап отражения (BIM - 6303) * 1ea |
| 12: Волокно типа Y (SIM - 6102Y - 061016 - T/SS M) * 1ea Двухточечный этап отражения (BIM - 6303) * 1ea | |
| 13: Интеграционная сфера для отражения (SIM - 3003 - 02501) * 1ea Интегрируя этап сферы (BIM - 6316 - 25) * 1еа | |
| Источник света | Дейтериевый вольфрамовый источник света (BIM - 6203) * 1ea |
| Стандарт | Стандарт зеркального отражения (SIM - 6326 - 30) * 1ea |
| Стандарт диффузного отражения (SIM - 6304 - 30) * 1ea |
